就醫(yī)指南
隨著圍產(chǎn)醫(yī)學(xué)和新生兒醫(yī)學(xué)的發(fā)展及危重新生兒搶救水平的提高，新生兒病死率逐漸下降，極早產(chǎn)兒和超早產(chǎn)兒存活率逐步上升，但是由于存活下來(lái)的危重新生兒和小胎齡早產(chǎn)兒均是發(fā)生圍產(chǎn)期腦損傷的高危人群，故新生兒神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥發(fā)生率并無(wú)顯著降低。振幅整合腦電圖(aEEG)是一種簡(jiǎn)便、可以連續(xù)監(jiān)測(cè)腦功能的監(jiān)護(hù)儀器，具有操作簡(jiǎn)單、受外界干擾少、圖形直觀、易于分析判斷，且可長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)監(jiān)測(cè)的特點(diǎn)。通過(guò)背景活動(dòng)、癇性活動(dòng)、睡眠覺(jué)醒周期等波形變化，檢測(cè)是否出現(xiàn)癇性放電，并評(píng)估新生兒腦成熟程度。
一、aEEG檢測(cè)的適用范圍
1.有腦損傷表現(xiàn)或存在腦損傷高危因素的新生兒，高危因素包括圍產(chǎn)期缺氧窒息史、新生兒頑固性低血糖、先天性遺傳代謝病、顱內(nèi)出血、腦卒中、中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染、嚴(yán)重高膽紅素血癥等，用于發(fā)現(xiàn)腦損傷、評(píng)價(jià)腦損傷的程度和預(yù)后；
2.新生兒腦發(fā)育的評(píng)估；
3.新生兒驚厥和可疑驚厥發(fā)作的檢測(cè)
4.腦損傷治療效果的評(píng)估，如亞低溫治療、抗驚厥藥物止驚治療。
二、 檢測(cè)時(shí)間
對(duì)于有腦損傷高危因素的新生兒，出生后6 h內(nèi)即開(kāi)始首次檢查；對(duì)于無(wú)高危因素、但臨床出現(xiàn)腦病癥狀的，應(yīng)盡快給予檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)間不少于2~4 h，存在睡眠?覺(jué)醒周期（睡眠周期）的新生兒，需記錄至少一個(gè)完整的睡眠周期。對(duì)需持續(xù)監(jiān)測(cè)病情變化的患兒，可延長(zhǎng)檢測(cè)時(shí)間，如進(jìn)行亞 低 溫 治 療 的 中 ? 重 度 缺 氧 缺 血 性 腦 病（hypoxic -ischemia encephalopathy，HIE）患兒持續(xù)監(jiān)測(cè)至生后72~96 h，對(duì)腦損傷恢復(fù)程度和預(yù)后評(píng)價(jià) ，以 及 驚 厥 檢 測(cè) 都 有 較 高 的 敏 感 度 和 特 異度［19?20］。
三、復(fù)查指征和時(shí)間間隔
1、腦損傷患兒：首次檢查后每24 h復(fù)查一次，持續(xù)至 72 h 或 aEEG 常，若 72 h 復(fù)查 aEEG 仍異常，1周左右復(fù)查，其后每周1次，直至aEEG正常。驚厥患兒連續(xù)監(jiān)測(cè)至驚厥控制（即患兒臨床表現(xiàn)和EEG檢查均未檢測(cè)到發(fā)作）后24 h［14］。如持續(xù)腦電監(jiān)測(cè)實(shí)施困難，可根據(jù)各單位具體情況適當(dāng)調(diào)整。
2、早產(chǎn)兒：建議每2周復(fù)查一次至校正胎齡40周或腦電成熟度同足月兒。
我院新生兒科投入使用新生兒腦功能監(jiān)測(cè)儀，標(biāo)志著我院新生兒科及新生兒神經(jīng)重癥監(jiān)護(hù)單元的整體診療水平更上一層樓，為提高對(duì)新生兒腦損傷的診斷水平，改善腦損傷患兒的預(yù)后，減少神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥的發(fā)生，切實(shí)提高生存質(zhì)量邁出了關(guān)鍵的一步。